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电子元器件高低温冲击试验箱

产品用途高低温冲击试验箱,用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化···
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产品介绍 / Introduction

产品介绍introduce

产品用途
高低温冲击试验箱,用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
设备核心特点
结构图 8.jpg 9.jpg
技术指标

型号

CJ80S3

CJ150S3

CJ225S3

 
性 能 参 数

预热室

预热温度上限

200℃

温度上升时间

R.T.→+200℃约40min

预冷室

预冷温度下限

0~-75℃

温度下降时间

R.T.→-70℃约90min

 
工作室

温度冲击范围

高温60℃~+150℃;低温-55℃~-10℃

温度波动度

≤±0.5℃

温度偏差

≤±2℃

温度回复时间

≤5min

 
温 度 回 复 条 件

CJ80S3I

条件一

高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min,样品重量10Kg铝。

条件二

高温150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg铝。

 
CJ80S3II

条件一

高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min,样品重量20Kg铝。

条件二

高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg铝。

条件三

高温暴露+150℃,低温暴露-55℃,暴露时间均30min,样品重量10Kg铝。

CJ150S3I

条件一

高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min,样品重量20Kg铝。

条件二

高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg铝。

 
CJ150S3II

条件一

高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min,样品重量20Kg 铝。

条件二

高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg铝。

条件三

高温暴露150℃,低温暴露-55℃,暴露时间均30min,样品重量10Kg铝。

CJ225S3I

条件一

高温125℃暴露,低温-40℃暴露,暴露时间均30min,样品重量10Kg铝。

条件二

高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg铝。

 
CJ225S3II

条件一

高温125℃暴露,低温-40℃暴露,暴露时间均30min,样品重量20Kg铝。

条件二

高温125℃暴露30min,环境温度暴露5 min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg铝。

条件三

高温150℃暴露30min,低温- 55℃暴露30min,负载10kg铝。

 
结 构

外壳

冷轧钢板表面喷塑(象牙白)

内胆

不锈钢板

隔热材料

非危废类环保型玻璃纤维保温层

制 冷

制冷方式

水冷

制冷机

进口压缩机

测试孔

左侧Φ50mm 1个

控制器

日本优易控控制器

 
工作室尺寸(mm)

W

500

600

750

H

400

500

500

D

400

500

600

 
外部尺寸(mm)

W

1460

1560

1710

H

1840

1940

1940

D

1500

1600

1700

电源

AC380V 50Hz三相四线制+接地线,保护接地电阻小于4Ω

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